업계 최초 20nm 우주용 FPGA 소개
새로운 20nm RT(내방사선) AMD Kintex™ UltraScale™ XQRKU060 FPGA로 실시간 온보드 프로세싱을 위해 우주에서 무제한 궤도 내 재구성 및 머신 러닝을 수행할 수 있습니다.
AMD Kintex UltraScale XQR 제품 개요
AMD Kintex UltraScale XQR FPGA는 성능에 중점을 둔 고성능 모놀리식 FPGA입니다. 높은 DSP 및 블록 RAM 대 로직 비율과 차세대 트랜시버를 우주용 패키징과 결합하여 발사 및 작동에 필요한 진동 및 조작 요구 사항을 처리할 수 있으므로 온보드 프로세싱, 디지털 페이로드, 원격 감지 등과 같은 응용 분야를 대상으로 궤도 내 재구성을 위한 차세대 고밀도 FPGA를 구현할 수 있습니다. 자세한 내용은 항공우주 및 국방 - 우주를 참조하세요.
AMD Kintex UltraScale XQR의 주요 장점
- 진정한 무제한 궤도 내 재구성 가능 솔루션
- DSP 컴퓨팅 10배 이상 증가로 프로세싱 집약적 알고리즘 및 분석 지원
- 모든 궤도에 걸친 전체 방사선 허용 오차
- 우주에서 고성능 엣지 추론을 지원하는 머신 러닝 생태계
- Vivado 및 Vitis 지원
- 지금 프로토타입 제작 가능!
제품 표
| Virtex 4QV (90nm) XQRV4QV |
Virtex 5QV (65nm) XQRV5QV |
Kintex UltraScale XQR (20nm) XQRKU060 |
|
|---|---|---|---|
| 방사선 경도 | 내성 | 경도 높음 | 내성 |
| 메모리(Mb) | 4.1~9.9 | 12.3 | 38 |
| 시스템 로직 셀(K) | 55~200 | 131 | 726 |
| CLB Flip-Flop(k) | 49.1~178.1 | 81.9 | 663 |
| CLB LUT(k) | 49.1~178.1 | 81.9 | 331 |
| MGT | 없음 | 4.25Gbps에서 18 | 12.5Gbps에서 32 |
| 사용자 I/O | 640~960 | 836 | 620 |
| DSP 슬라이스 | 32~192 | 320 | 2,760 |
| 방사선(TID, SEL) | 300, >125 | 1,000, >125 | 100, >80 |
| 신뢰성(패키지, 테스트) | CNA1509; V-Flow | CNA 1752; B-Flow 및 V-Flow | CNA 1509; B-Flow 및 Y-Flow |
AMD Kintex™ UltraScale™ XQR 방사선 특성
우주용 AMD Kintex UltraScale XQR 아키텍처 기반 디바이스는 AMD B, Y 테스트 흐름(QML 준수), 전체 군사용 작동 온도 범위 지원, 단일 이벤트 효과를 위한 방사선 테스트와 같은 엄격한 자격 요건에 따라 테스트된 고유한 세라믹 컬럼 그리드 어레이 패키지를 통해 상용 실리콘의 이점을 확장합니다. RT Kintex UltraScale XQR 디바이스는 특허받은 40개 이상의 독점 회로 설계 및 레이아웃 기술을 사용하여 SEU 크로스 섹션을 줄입니다. 아래 표에는 RT Kintex UltraScale의 방사선 특성이 나열되어 있습니다.
| 기호 | 설명 | 최소 | 일반 | 최대 | 단위 |
|---|---|---|---|---|---|
| TID | 총 이온화선량(GEO) | - | 100 | 120 | Krad(Si) |
| SEL | 단일 이벤트 래치업 내성 | - | 80 | - | MeV-cm2/mg |
| SEUCRAM | 구성 RAM의 단일 이벤트 업셋(GEO) | - | 1.0e-8 | - | 업셋/비트/일 |
| SEUBRAM | 블록 RAM의 단일 이벤트 업셋(GEO) | - | 8.5e-9 | - | 업셋/비트/일 |
| SEFICRAM | 단일 이벤트 기능 중단 궤도 업셋 주파수 - 구성 RAM(GEO) | - | 4.5e-4 | - | 업셋/디바이스/일 |
다음 표에서는 단일 이벤트 효과의 유형을 설명합니다. 자세한 보고서를 보려면 AMD Space Secure Site(등록 필요)를 방문하세요.
| 방사선 유형 | 방사선 신호 | 대상/의견 |
|---|---|---|
| 단일 이벤트 업셋(SEU) | 메모리 요소에 저장된 정보의 손상 | 메모리, 로직 디바이스의 래치. SBU(단일 비트 업셋) 또는 MBU(복수 비트 업셋)로 구성됨. |
| SET(단일 이벤트 과도) | 특정 진폭 및 지속 시간의 임펄스 응답 | 아날로그 및 혼합 신호 회로 메모리 셀에 래치된 경우 SEU가 발생할 수 있음. |
| SEL(단일 이벤트 래치업) | 고전류 조건 | CMOS 디바이스. 심각한 실패로 이어질 수 있음. |
| SEFI(단일 이벤트 기능 중단) | 데이터 경로가 손상되어 정상 작동이 손실됨 | 내장 상태 기계/제어 섹션 또는 시스템이 있는 복잡한 디바이스. |
시작하기
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ADA-SDEV-KIT3 개발 키트
ADA-SDEV-KIT3는 우주용 AMD Kintex UltraScale XQRKU060 FPGA용 개발 키트입니다.
지원 및 리소스
항공우주 및 국방 솔루션 개요
우주용 Kintex UltraScale XQR과 우주 분야에서 쌓은 경험
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